Contact

Dr. René Hübner
Electron Microscopy Laboratory
IBA/OSA
r.huebnerAthzdr.de
Phone: +49 351 260 - 3174
Fax: +49 351 260 - 13174

Analytische Rasterelektronenmikroskopie (REM)


Ausrüstung

  • Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop Hitachi S-4800 (bis 30 kV)
  • Analytischer EDXS-Zusatz (energiedispersive Röntgenspektroskopie) mit digitalem Pulsprozessor: Si(Li)-Detektor mit S-UTW-Fenster (INCA, Oxford Instruments), Elementnachweis für Z ≥ 5

Arbeitsfelder

Das REM wird für vielfältige Inspektionen und Analysen von Oberflächen, Ablagerungen oder Bruchflächen eingesetzt. Es wird von Forschern aus allen Instituten des HZDR genutzt und steht auch externen Partnern zur Verfügung.

Repräsentative Arbeitsthemen sind:

  • Oberflächenveränderungen nach Ionenimplantation
  • Analyse von Strukturen, die mit dem Ionenfeinstrahl "geschrieben" wurden
  • Charakterisierung abgeschiedener Dünnschichten
  • Analyse von Elementverteilungen in Gesteinsschliffen
  • Teilchenform und -größe von Aerosolen
  • Charakterisierung von Kernspurfiltern
  • Untersuchung von Bakterien
  • Untersuchung von Kolloidpartikeln in Bergwerkswässern

Die energiedispersive Röntgenanalyse gestattet die chemisch-analytische Identifizierung von mikroskopisch kleinen Einschlüssen, Phasen und Inhomogenitäten aller Art. Eine quantitative Elementbestimmung für einzelne Punkte (minimale Grösse ca. 1-2 µm), Linien oder Flächen ist möglich. Dabei kann die Informationstiefe bis zu einigen Mikrometern betragen.


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