Interesse?

An die Schüler der 11. und 12. Klassen in Dresden und Umgebung:

Wer von Euch möchte uns helfen, unsere Forschungsthemen in einer allgemeinverständlichen Sprache einem breiten Publikum im Internet im Rahmen eines Praktikums oder einer Ferienarbeit vorzustellen? Voraussetzungen sind:

  • Interesse an naturwissenschaftlichen Fragestellungen

  • Grundkenntnisse im Umgang mit PCs sowie der Erstellung von Internet-Seiten

Meldet euch einfach im Schülerlabor.

Weiterführende Links

Die Rasterkraftmikroskopie

Die Rasterkraftmikroskopie (Atomic Force Microscopy, AFM) ist eine Untersuchungsmethode, die es möglich macht, Strukturen der Oberflächen von fast allen Materialien bildlich darstellen zu können. Es handelt sich dabei um eine Spitze (z.B. aus Wolfram), die äußerst fein ist, und die z.B. durch Ätzen hergestellt wurde. Diese Spitze ist auf einem federnden ,,Blech", dem sog. Cantilever, angebracht und wird über die zu untersuchende Oberfläche gezogen und dabei die Verzerrung des Cantilevers registriert, indem z.B. ein Spiegel daran befestigt ist, der einen Laserstrahl ablenkt.

Rasterkraftmikroskop

Abb.: Schema zur Funktionsweise eines Rasterkraftmikroskops.
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