Contact

Dr. Wolfgang Skorupa
Head Semiconductor Materials
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Phone: +49 351 260 - 3612
Fax: 13612, 3411

Dr. Shengqiang Zhou
Head Functional Materials
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Phone: +49 351 260 - 2484

Examensarbeiten in der Abteilung Halbleitermaterialien

  • Characterization of Bi2Se3 topological insulator films

    (experimental)

    Topological insulators are a new class of exciting materials with fascinating physics and a large application potential. A series of Bi2Se3 thin films have been prepared by molecular beam epitaxy. Your task will be to characterize their  electrical and optical properties. This includes temperature dependent Hall measurements to determine carrier concentration and mobility, as well as optical absorption measurements by Fourier transform infrared (FTIR) spectroscopy. In addition, we would like to modify the films by ion beam doping, which will allow us to shift the Fermi energy and thus modify the properties. This work will be done together with our young-investigator group leader Dr. Shengqiang Zhou.

    Contact: Prof. Dr. Manfred Helm, Dr. Shengqiang Zhou
  • Blitzlampentemperung: Temperaturmessung und Materialcharakterisierung

    (experimentell)

    Die Blitzlampenremperung (FLA) ist ein modernes Verfahrung zur thermischen Behandlung von Materialsystemen, insb. in der Mikroelektronik und Photovoltaik, das unerwünschte Prozesse wie Diffusion unterdrückt und auch für temperatursensible Substrate geeignet ist. Ein kritischer Punkt ist jedoch die Kenntnis der tatsächlichen Oberflächentemperatur, die im Verlauf weniger Millisekunden stark variiert und von den Materialeigenschaften der Probe abhängt, insb. von Geometrie, Wärmekapazität, Wärmeleitfähigkeit und optischer Absorption. Im Rahmen der Master- oder Diplomarbeit soll an einer FLA Anlage eine pyrometrische, zeitaufgelöste Temperaturmessung aufgebaut und an verschiedenen Substratklassen getestet werden. Die Arbeit beinhaltet neben Aufbau und Kalibrierung die Charakterisierung der thermisch behandelten Substrate, z.B. bzgl. des Schichtwiderstandes oder der Kristallisation amorpher Schichten. Die Arbeit kann durch eine Modellierung mittels geeigneter Simulationswerkzeuge (FlexPDE, COMSOL) ergänzt werden.

    Kontakt: Dr. Lars Rebohle


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