Contact

Dr. René Hübner
Electron Microscopy Laboratory
IBA/OSA
r.huebnerAthzdr.de
Phone: +49 351 260 - 3174
Fax: +49 351 260 - 13174

Analytical Transmission Electron Microscopy (TEM) - Equipment - Our Titan 80-300 manufactured by FEI company is equipped with a field...

Phasenseparation in perkolierte Si-Nanostrukturen im SiO2

BF-TEM Si-SiOx Überblick

Abb. 1. TEM-Hellfeldabbildung einer Querschnittsprobe eines auf einkristallinem Silizium abgeschiedenen Si-SiOx-Nanokomposits.

BF-TEM Si-SiOx HRTEM

Abb. 2. Hochaufgelöste TEM-Abbildung der Grenzfläche zwischen Si-SiOx-Nanokomposit und Siliziumsubstrat mit elastisch gestreuten Elektronen.

EFTEM Si-SiOx Si+SiOx

Abb. 3. Überlagerung von mittels EFTEM aufgenommener Si- (grün) und SiOx-Verteilungen (rot).


Contact

Dr. René Hübner
Electron Microscopy Laboratory
IBA/OSA
r.huebnerAthzdr.de
Phone: +49 351 260 - 3174
Fax: +49 351 260 - 13174