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Structural Materials
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orangener PfeilFurther TEM - equipment at HZDR

Analytic TEM FEI Titan 80-300

TEM-Labor

FEI Talos F200A
Bild: FEI Talos F200A
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Elektronenquelle

  • Typ: X-FEG
  • Beschleunigungsspannung: 200 kV
  • Richtstrahlwert: 1.8 109 A cm-2 sr -1 (bei 200 kV)
  • Gesamter Strahlstrom: < 50 nA
  • Nano-Sondenstrom (0.3-1.0 nm): 0.4-1.5 nA (bei 200 kV)

Abbildungseigenschaften

  • Objektiv: A-Twin-lens
  • STEM-Detektoren: HAADF, BF/DF on-axis
  • TEM Informationslimit: 0.12 nm
  • TEM Punktauflösung: 0.25 nm
  • STEM-HAADF-Auflösung: 0.16 nm

Goniometer

  • Typ: FEI CompuStage
  • Max. Goniometerkippung: ± 90º
  • Max. Probenkippung (Doppelkipphalter): ± 30º
  • Piezo-Unterstützung (x,y): Schrittweite > 20 pm

Kamera

  • Typ: FEI Ceta 16M
  • Szintillator: Phosphor
  • Sensor: 4096 x 4096 CMOS
  • Pixelgröße: 14 x 14 µm2
  • Geschwindigkeit: < 25 fps (binnig 8)

EDS

  • Typ: Super-X EDS System (4 SDD symmetrisch)
  • Raumwinkel: 0.9 sr
  • Energieauflösung: 136 eV for Mn kα and 10 kcps
  • Pixel-Verweilzeit: > 10 µs

Probenhalter für 3.05 mm-Scheiben (max. 0.34 mm Dicke)

  • Single tilt
  • CompuStage Low-Background, Doppelkipphalter mit Hex-ring (Be)
  • High-Visibility Low-Background, Doppelkipphalter mit SoftLoc (Mo or Bronze) optimiert für minimale EDS-Abschattung
  • In-situ Gatan Einfachkipphalter zur mechanischen Dehnung (Modell 654) mit Accutroller Modell 902)

Forschungsfelder

  • Entwicklung der Nanostruktur von Fe-basierten bcc-Legierungen unter Ionen-Bestrahlung
  • Quantitative Abbildung und Analyse von Versetzungsstrukturen
  • Identifizierung und Charakterisierung von Nanoclustern
  • Abbildung magnetischer Stukturen

Angewandte Methoden

  • Hellfeld- / Dunkelfeld-Abbildung
  • Schwachstrahl-Dunkelfeld-Abbildung
  • STEM-BF/ADF/HAADF
  • STEM-EDX
  • Lorentz-Mikroskopie

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