Wozu Kraftmikroskopie?

Natürlich sind nicht alle Objekte eben, aber es muss trotzdem dafür gesorgt werden, dass die Oberfläche gleichmäßig durchleuchtet und 'abgescannt' wird, denn verändert sich beim Scannen die Größe der beleuchteten Fläche und die Intensität des auf sie fallenden Lichtes, werden im Bild scheinbare Strukturen erzeugt, die es in Wirklichkeit gar nicht gibt. Dafür benutzt man das Verfahren der Kraftmikroskopie. Dabei wird die Glasfaser durch einen Piezokristall geführt, an dem eine Wechselspannung anliegt. Dieser wird in eine sinusförmige Schwingung versetzt. Man kann die Spannung so wählen, dass die erzwungene Schwingung mit der Eigenschwingung des Kristalles übereinstimmt und sie somit verstärkt. Da Kräfte zwischen dem Objekt und der ebenfalls schwingenden Glasfaser wirken, verändert sich die Schwinung, sobald die Glasfaser sich zu nah oder zu weit weg von dem Objekt befindet. Dies wird von einem Gerät bemerkt welches einem Steuerelement den 'Befehl' gibt das Objekt näher an die Glasfaser zu fahren bzw. sich von ihr zu entfernen. Auch bei diesem Verfahren werden Daten über die Beschaffenheit der Oberfläche gewonnen, aus denen man ein Bild des Objektes am Computer rekonstruieren kann. Man gewinnt aber keine Information über die chemische Zusammensetzung bzw. das 'Material' des Objektes.