Diagnostik-Seminare

 


Die Serie der Diagnostik-Seminare wird turnusgemäß alle zwei bis drei Jahre zu Ausbildungszwecken wiederholt (die neuen Termine bekanntgegeben)

 

Termin:  jeweils der 2. Dienstag im Monat, 9.00 h, im Tandem-Seminarraum.

30 min Vortrag + 30 min Diskussion

Aspekte:

- Das physikalische Prinzip der Diagnostik
- Erfaßte physikalisch-chemischen Eigenschaften
- Wesentliche Qualitätsdaten (Nachweistiefe, Nachweisgrenze,
   Elementauflösung, Tiefenauflösung,...)
- Anforderungen an die Probenpräparation
- Vergleich zu anderen Verfahren, die ähnliche Aussagen liefern
 
 

Programm

 
Datum
 
Ionenstrahlanalytik I (RBS, ERDA)
  		O. Kruse
  TEM
A. Mücklich
 
 
 
XPS, AES
 
H. Reuther
 
 
 
Röntgenverfahren
 
W. Matz
 
 
 
Ionenstrahlanalytik II (PIXE, µ-Strahl)
 
Ch. Neelmeijer, D. Grambole
 
 
 
Infrarotspektroskopie
 
W. Fukarek
 
 
 
Mechanische Diagnostiken (Profilometer, Scratchtest, Pin-on-disc, Härte)
 
E. Richter
 
 
 
Synchrotronstrahlung
 
F. Prokert
 
 
 
Ellipsometrie
 
W. Fukarek
 
 
 
Elektrische Diagnostiken I (CU- und IU-Analyse)
 
W. Skorupa
 
 
 
REM
 
W. Matz
 
 
 
Positronenanihilation
 
G. Brauer
 
 
 
Elektrische Diagnostiken II (Spreading Resistance, Hall-Effekt)
 
D. Panknin
 
 
 
REM/TEM-Präparation mit Ionenfeinstrahl
 
L. Bischoff
 
 
 
Mößbauer-Spektroskopie
 
H. Reuther