• Buchmann, M.; Schach, E.; Tolosana-Delgado, R.; Leißner, T.; Astoveza, J.; Kern, M.; Möckel, R.; Ebert, D.; Rudolph, M.; van den Boogaart, K. G.
  "Evaluation of Magnetic Separation Efficiency on a Cassiterite-Bearing Skarn Ore by Means of Integrative SEM-Based Image and XRF–XRD Data Analysis", Minerals (2018)
  DOI-Link: 10.3390/min8090390

• Rahfeld, A.; Wiehl, N.; Dreßler, S.; Möckel, R.; Gutzmer, J.
  "Major and Trace Element Geochemistry of the European Kupferschiefer – An Evaluation of Analytical Techniques", Geostandards and Geoanalytical Research (2018)
  DOI-Link: 10.1144/geochem2017-033

• Uhlig, S.; Möckel, R.; Pleßow, A.
  "Quantitative analysis of sulfides and sulfates by WD-XRF: Capability and constraints", X-Ray Spectrometry (2016)
  DOI-Link: 10.1002/xrs.2679

Bei der Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA) trifft ein primärer Röntgenstrahl auf eine ebene Probenoberfläche. Die Bestrahlung bewirkt, dass sekundäre Röntgenstrahlen im Probenmaterial erzeugt und ausgesandt werden. Sie zeigen die charakteristischen Energiemuster aller Elemente, die in der Probe enthalten sind. Sie definieren sich entweder über die Energie selbst oder jeweiligen Wellenlängen. Unser Spektrometer Axios^mAX von PANalytical ist ein wellenlängendispersives Gerät, in dem Wellenlängen mit Hilfe von Beugungskristallen in ihre spektralen Bestandteile zerlegt und mit Elementen aus der Probe assoziiert werden. Die Konzentration eines bestimmten Elements berechnet sich anhand der Kalibration.

Prinzip der Röntgenfluoreszenzanalyse

Foto: Adapted from Brucker AXS S8 Tiger Information brochure