Contact

Dr. René Hübner
Electron Microscopy Laboratory
IBA/OSA
r.huebnerAthzdr.de
Phone: +49 351 260 3174
Fax: +49 351 260 13174

Talos F200X (FEI)

Talos F200X

Elektronenquelle

  • Typ: X-FEG
  • Beschleunigungsspannung: 200 kV
    Richtstrahlwert: 1.8 x 109 A cm-2 sr-1 (bei 200 kV)

Beleuchtung

  • 2-Kondensorlinsen-System

Abbildung

  • Objektiv: A-Twin-Linse
  • TEM-Informationslimit: 0.12 nm
  • TEM-Punktauflösung: 0.25 nm
  • STEM-HAADF-Auflösung: 0.16 nm

Kameras und Detektoren

  • 16-Megapixel CMOS-Kamera (FEI Ceta 16M) für TEM
  • Großwinkeldunkelfelddetektor (HAADF) für STEM
  • On-Axis Hellfeld-/Dunkelfeld-Detektor (BF/DF) für STEM

Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDXS)

  • Super-X-System (4 SDD symmetrisch)
  • effektiver Raumwinkel: 0.9 sr
  • Energieauflösung: 136 eV (Mn-Kα, 10 kcps)
  • Elementnachweis für Z ≥ 5

Probenhalter

  • Einfachkipphalter
  • Low-Background-Doppelkipphalter mit Be-Hex-Ring
  • High-Visibility-Low-Background-Doppelkipphalter mit SoftLoc (Mo or Bronze) optimiert für minimale EDXS-Abschattung
  • In-situ Einfachkipphalter zur mechanischen Dehnung (Gatan, Modell 654 mit Accutroller Modell 902)

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