XRD-1: Ein 6-Kreis-Goniometer mit Euler'scher Wiege für hochauflösende Pulver-Röntgenbeugung (PXRD), und oberflächensensitive Röntgenbeugung (CTR, RAXR)

Bei der XRD-1-Station handelt es sich um ein 6-Kreis-Diffraktometer (Huber Diffraktionstechnik GmbH), das für die Analyse von Einzelreflexen mit hoher Auflösung vorgesehen ist und sich daher sowohl für die hochauflösende Pulverdiffraktion als auch für die Oberflächendiffraktion eignet. Das Diffraktometer ist mit einem Pilatus Si 100k- und alternativ einem Eiger CdTe 500k- Detektor ausgestattet, der auf einem Detektorarm montiert ist, und der in Bezug auf die Probenhalterung frei gedreht werden kann. Der Aufbau des Diffraktometers basiert auf der klassischen Euler'schen Wiegengegeometrie. Der Detektorarm kann in der horizontalen und in der vertikalen Streuebene sowie in jeder Richtung, die die horizontale und vertikale Bewegung kombiniert, bewegt werden.

Der einfallende Röntgenstrahl wird mit der Strahlkonditionierungseinheit, die vor dem Diffraktometer platziert ist, geformt und überwacht. Ihre Komponenten sind modular aufgebaut und leicht austauschbar. Die Intensität des einfallenden Röntgenstrahls wird von einem Monitor gezählt, der aus einer um 45° gekippten, 20-µm-Kapton-Streufolie und einem LaCl3-Szintillationszähler (FMB Oxford /Cyberstar) besteht. Das zweite Modul ermöglicht die Reduzierung der Primärintensität durch ferngesteuertes pneumatisches Zuschalten verschiedener Metallfolien. Ein drittes Modul unterdrückt parasitäre Streuung mit einer vakuumdichten Blende (IB-C22-HV, JJ-X-ray). Das vierte Modul ist ein Fast Shutter (RI Research Instruments GmbH), der den Detektor vor zu starken Reflexionen bei Goniometer- und Detektorbewegungen schützt. Modul 5 ist eine Ionisationskammer (IC Plus 50, FMB Oxford) zur Überwachung der tatsächlichen Intensität der einfallenden Röntgenstrahlung für die Normalisierung. Modul 6 ist eine Lochblende, die die verbleibende parasitäre Steustrahlung an den Wolframlamellen des Spaltes abschneidet. Mit Ausnahme der beiden letzten Komponenten befindet sich diese Strahlenkonditionierungseinheit im Vakuum.

Es gibt zwei Detektoren, einen für Oberflächenbeugung (Pilatus Si 100K) und einen für die hochauflösende Pulverdiffraktometrie (Eiger CdTe 500k).

Das Diffraktometer wird mit SPEC oder BLISS betrieben.