Die Rasterkraftmikroskopie
Die Rasterkraftmikroskopie (Atomic Force Microscopy, AFM) ist eine Untersuchungsmethode, die es möglich macht, Strukturen der Oberflächen von fast allen Materialien bildlich darstellen zu können. Es handelt sich dabei um eine Spitze (z.B. aus Wolfram), die äußerst fein ist, und die z.B. durch Ätzen hergestellt wurde. Diese Spitze ist auf einem federnden ,,Blech", dem sog. Cantilever, angebracht und wird über die zu untersuchende Oberfläche gezogen und dabei die Verzerrung des Cantilevers registriert, indem z.B. ein Spiegel daran befestigt ist, der einen Laserstrahl ablenkt.
Abb.: Schema zur Funktionsweise eines Rasterkraftmikroskops.
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