Schnelle Ionen für Europa - Das SPIRIT-Projekt


Schnelle Ionen für Europa - Das SPIRIT-Projekt

Möller, W.; Kolitsch, A.; Merchel, S.; Zier, M.; Spirit-Team

Das von der EU finanzierte SPIRIT-Projekt (Support of Public and Industrial Research using Ion beam Technology) [1] erlaubt Nutzern aus Forschung und Industrie den kostenfreien transnationalen Zugang zu Ionenstrahl-Infrastrukturen. Daneben fördert es die Weiterentwicklung der ionenstrahlbasierten Methoden und Instrumente zur Materialanalyse und –modifikation sowie die weitere Verbreitung der Verfahren in Gebieten aktueller Forschung und Technik. Die SPRIT-Partner sind die elf führenden Ionenstrahleinrichtungen in Europa.
Schnelle Ionen im Energie-bereich von ca. 10 keV bis 100 MeV werden von den SPIRIT-Partnern eingesetzt und externen Nutzern zur Verfügung gestellt. Diese Ionen dienen insbesondere der Modifikation und Analyse von Oberflächen, Grenzflächen, dünner Schichten und nanostrukturierten Systemen. Anwender aus der Grundlagenforschung und der angewandten Forschung nutzen diese schnellen Ionen in der Materialforschung, Lebens-, Geo- und Umweltwissenschaften, bis hin zur Analyse von Kunst- und Kulturgütern. So können z. B. Elementkonzentrationen zerstörungs- und standardfrei mittels Ionenstrahlanalysemethoden wie
• Rutherford-Rückstreu-Spektrometrie (Rutherford Backscattering Spectrometry - RBS)
• Kernreaktionsanalyse (Nuclear Reaction Analysis - NRA)
• Elastische Rückstreuanalyse (Elastic Recoil Detection - ERD)
• Teilchen-induzierte Röntgen- und Gamma-Emission (Particle-Induced X-Ray – PIXE und Gamma-Emission - PIGE).
bestimmt werden. Alle Elemente sind dabei zugänglich; die meisten Elemente in lateraler, manche sogar in 3-D-Auflösung mit einem analysierbaren Tiefenbereich von nm/µm und einer Tiefenauflösung von 0.5-30 nm. Typische Nachweisgrenzen sind 10 µg/g (H), 500 µg/g - 1% (He-O), 1 µg/g (F) bzw. 10-100 µg/g (Na-U).
Sieben SPIRIT-Partner stehen für den transnationalen Zugang allen Nutzern der europäischen Union kostenfrei zur Verfügung. Anträge [2] für selbst durchgeführte Experimente oder Auftragsarbeiten werden von einem internationalen Expertengremium begutachtet. Bei positiver Entscheidung werden alle Kosten inkl. der Reise- und Aufenthaltskosten von SPIRIT übernommen.

Referenzen
[1] www.spirit-ion.eu, 7.RP #227012. [2] http://www.spirit-ion.eu/application.html.

Keywords: ion beam analysis; ion beam modification

  • Poster
    Deutsche Tagung für Forschung mit Synchrotronstrahlung, Neutronen und Ionenstrahlen an Großgeräten (SNI2010), 24.-26.02.2010, Berlin, Deutschland

Permalink: https://www.hzdr.de/publications/Publ-13148
Publ.-Id: 13148