P0813 - Prozessmikroskop


P0813 - Prozessmikroskop

Hampel, U.; Barthel, F.; Tschofen, M.

Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur optischen Visualisierung und Vermessung von mikroskopischen Vorgängen in Prozessen bei hoher Temperatur und/oder hohem Druck. Die Kamera- und die Beleuchtungseinheit sind in einem oder in getrennten Wärmeleitzylindern untergebracht um diese Einheiten vor unzulässig hohen Temperaturen, die am Prozessort auftreten, zu schützen ohne gleichzeitig einen starken Wärmeentzug aus dem Prozessmedium zu verursachen.

  • Patent
    DE102008058785 - Offenlegung 27.05.2010, Erteilung 16.02.2016

Permalink: https://www.hzdr.de/publications/Publ-15560
Publ.-Id: 15560