P1019 - Verfahren zur hochgenauen Messung der Strahlungsschwächung von veränderlichen Materialverteilungen mit Photonen- oder Teilchenstrahlung


P1019 - Verfahren zur hochgenauen Messung der Strahlungsschwächung von veränderlichen Materialverteilungen mit Photonen- oder Teilchenstrahlung

Hampel, U.

Verfahren zur hochgenauen Messung der Strahlungsschwächung von veränderlichen Materialverteilungen mit Photonen- oder Teilchenstrahlung, verwendend eine Anordnung umfassend eine kollimierte Strahlungsquelle 1, mindestens einen Detektor 2 und einer dem Detektor 2 nachgeordneten Datenerfassungs- und Verarbeitungseinheit 3, dadurch gekennzeichnet, dass a) die Photonen- oder Teilchenstrahlung ausgehend von der Strahlungsquelle 1 das zu untersuchende Material 4 durchdringt und anschließend auf den Detektor 2 fällt, wobei der Detektor 2 die eintreffenden Photonen bzw. Teilchen zählt; b) die Datenerfassungs- und -verarbeitungseinheit 3 aufeinander folgend eine Anzahl von Zählwerten K des Detektors 2 für hinreichend kurze Zeitintervalle &Dgr;Tkurz erfasst, in denen die Materialverteilung in ausreichender Näherung als unveränderlich angesehen werden kann; c) die Datenerfassungs- und -verarbeitungseinheit 3 die aufeinander folgend aufgenommenen Zählwerte als Häufigkeitsverteilung in einem Datenfeld F abspeichert; d) die Datenerfassungs- und -verarbeitungseinheit 3 durch nacheinander folgende Berechnung des algebraischen Gleichungssystems Q = P+ F und den mittleren Schwächungswert A...

  • Patent
    DE 102010061440A1 - 21.06.2012

Permalink: https://www.hzdr.de/publications/Publ-18414
Publ.-Id: 18414