Anwendungen der Röntgenfarbkamera SLcam® in der Geologie und Resourcentechnologie


Anwendungen der Röntgenfarbkamera SLcam® in der Geologie und Resourcentechnologie

Scharf, O.; Arkadiev, V.; Buchriegler, J.; Dressler, S.; Kühn, A.; Renno, A.; Ziegenrücker, R.

Die Messung von mikro-Röntgenfluoreszenzspektren über einer Fläche, ein Vollfeld Röntgenfluoreszenzdatensatz, ermöglicht die Verteilung von Elementen und deren Konzentrationen in einer Probe zu bestimmen. Diese Informationen sind wichtig für die Analyse von Gesteinsproben und die (Rück-)Gewinnung von Wertstoffen, da sich der Aufschluss und die Aufbereitung neben der chemischen Zusammensetzung auch nach den umgebenden Stoffen und der Größen- und Formverteilung richten. Diese Daten werden vor allem durch die Mineral Liberation Analyse am Rasterelektronenmikroskop gewonnen und durch gezielte Messungen an ausgewählten Punkten verfeinert.
In jüngster Zeit wurden zwei Forschungsprojekte gestartet, die den Vollfeld Röntgenfluoreszenzdatensatz mit Hilfe der Röntgenfarbkamera gewinnen. Im Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf wurde die High-Speed PIXE Anlage in Betrieb genommen, die einen Vollfeld Röntgenfluoreszenzdatensatz über eine 1,44 cm2 große Fläche mit Hilfe der protoneninduzierten Röntgenfluoreszenz aufnimmt. In der gleichen Geometrie wurde ein Auftischgerät entwickelt (MEGA), das zur Anregung eine 1.2 kW Röntgenröhre nutzt. Zusätzlich wurde ein Polarisationsmikroskop integriert. Beide Geräte arbeiten im Vakuum und können mit unterschiedlichen Optiken verwendet werden.
Die Projekte werden vorgestellt und erste Ergebnisse werden präsentiert.

Projekt Mega:

MEGA - Methodische und gerätetechnische F&E für die schnelle Vorort-Analyse der feinkörnigen und inhomogenen Verteilung von Hochtechnologiemetallen in Lagerstätten

Projekt HS-Pixe:

This work has been supported by Marie Curie Actions - Initial Training Networks (ITN) as an Integrating Activity Supporting Postgraduate Research with Internships in Industry and Training Excellence (SPRITE) under EC contract no. 317169.

Keywords: SLcam; X-ray; PIXE; XRF

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    PRORA 2015 - Prozessnahe Röntgenanalytik, 12.-13.11.2015, Berlin, Deutschland

Permalink: https://www.hzdr.de/publications/Publ-22565
Publ.-Id: 22565