Von der IMSA-100 zum IMSA - Orsay-Physics-FIB

Einleitung

 
  Das FIB System IMSA 100 wurde entwickelt, um extrem hohe Stromdichten von mehr als 10 A/cm zu erreichen. Die ionenoptische Säule besteht aus einer Flüssigmetallionenquelle (LMIS), zwei elektrostatischen  Linsen, einem  Oktupoldeflektor, einem E x B Massenseparationssystem, einem Austaster, zwei Stigmatoren und einem Sekundär- Electronen/Ionen Detektor für die Probenabbildung. Die obere (Objektiv) Linse beschleunigt die Ionen von der Ionenquelle von einer Extraktionsenergie von circa 7 keV zur kinetischen  Endenergie, die zwischen 25 and 50 keV für einfach geladene Ionen gewählt werden kann. Die untere  (Projectiv) Linse ist eine asymmetrische Einzellinse mit deren Hilfe der Strahl auf die Probe fokussiert wird. Die Quelle befindet sich in der Objektseitigen Fokalebene der Objektivelinse und die Targetebene korrespondiert mit der Bildseitigen Fokalebene der Projektivlinse. So wird der Ionenstrahl zwischen den Linsen kollimiert und dadurch ein cross-over vermieden, .wodurch eine Strahlverbreiterung durch Coulomb-Wechselwirkung nicht auftritt.

Nach 12-jährigem Betrieb wird nun die Anlage modernisiert, da die Strahlparameter (Spotsize ~ 200 nm) den neuen Anforderungen nicht mehr genügen. Die ionenoptische Säule einschliesslich der  Ansteuerung wird durch eine CANION 31Z von Orsay Physics ersetzt wobei viele der umfangreichen Optionen der IMSA erhalten wurden. Auch diese Ionensäule enthält einen Massenseparator (ExB Filter). Die Parameter des neuen Systems sind in folgender Tabelle zusammengefasst.

 

Parameter des  Systems IMSA-Orsay-Physics-FIB

Energiebereich 10-30 keV (einfach geladen)
Ionenarten Ga, Co, Nd, Ge, Au, Si, Er, Ni, Fe, Cr, B, In  ...
Strahlstrom 0.001 - 22 nA
Spotdurchmesser min 14 nm (Ga)
Stromdichte >20 A/cm2
Massenauflösung  35
Probengröße Wafer: bis zu  6" 
Masken: bis zu 7" 
Optionen
  • Spezialprobenhalter
  • Heiztargets bis zu 500oC, 2" sowie bis zu 700°C; 1/2"
  • Probenkühlung bis 240 K (Peltier)
  • in-situ elektrische Kontaktierung, 5polig
  • Probenkippung (Rotation) 360 °; inc: 0 28°
  • FIB gestützte Ätzung 
  • FIB gestützte Metallabscheidung (W)
  • Ladungsneutralisation 
Probentisch Laserinterferometer  gesteuerter x-y Tisch 
160 x 160 mm2
Genauigkeit: < 50 nm
Scanfeld max. 500 x 500 µm (energieabhängig)
für größere Strukturen: stitching 
Daten input Format ASCII, AutoCAD
Abbildung und 
Oberflächenanalyse
  • Sekundärelectronen Detektion
  • Strominduzierte Abbildung
  • Detektion Ionenstrahl induzierter akustischer Wellen
  • in-situ CCD Kamera
  • 2 Messkanäle für optische Methoden

 

Strahlprofil eines FIB Systems

Ein wichtiger Parameter ist auch die Ionenstrahlintensitätsverteilung, die hier für Co und Ga Ionen gezeigt ist und noch mit dem IMSA-100 System bestimmt wurde.

Publikationen