Optimierungspotential für Aufbereitungsprozesse durch Nutzung eines Röntgenfluoreszenzspektrometers mit Full-Field-Detektor zur Vorort-Charakterisierung mineralogischer Proben mit inhomogener Elementverteilung

Im Rahmen des BMBF-geförderten „MEGA-Projektes“ haben sich Partner aus der Montanindustrie, Aufbereitungs-Verfahrenstechnik, dem analytischen Gerä­tebau, der geologisch-mineralogischen Forschung und der Anwendungs­forschung im Bereich optischer Technologien zusammengefunden. Dieses Kon­sortium wird gemeinsam Forschungs- und Entwicklungsaufgaben zu analy­tischen und methodischen Möglichkeiten eines XRF-Mine-Spektrometers evaluieren und direkt auf die Anwendungsfälle in Geologie, Bergbau, Aufbe­reitung und Metallurgie ausrichten. Das Ziel ist eine Optimierung der Wert­schöpfungskette von der Erkundung über die Exploration zur Aufbereitung und Metallurgie. Als erster Schritt erfolgt die Konzeption des XRF-Mine-Spektro­meters als Forschungsgerät, welches optimal an die Lösung ressourcentech­nologischer Fragestellungen angepasst ist.
Das anvisierte XRF-Mine-Spektrometer für die (ultra)schnelle Vorort Röntgen­fluoreszenzspektroskopie (XRF-Spektroskopie) wird ein Analysegerät zur Spurenelementanalyse metallischer und mineralischer Primär- und Sekun­därrohstoffe. Die Bestimmung der Spurenelemente sowie ihrer räumlichen Ver­teilung in verschiedenen Mineralen erfolgt dabei in stark inhomogenen Ma­trices. Dies gestattet neben der Bestimmung von Gesamtspurenelement­gehalten auch die Berechnung aufbereitungstechnologisch relevanter Para­meter wie Korngrößen, Verwachsungsverhältnisse und Liberalisierungsgrad. Anhand verschiedener technologisch relevanter Aufbereitungsschemata von Metallerzen und Industriemineralen wird das Optimierungspotential der ent­sprechenden Aufbereitungsprozesse durch den Einsatz des XRF-Mine-Spec­trometers aufgezeigt.