Supraleitende Schichten in Ge und Si – Einfluss der Ausheilbedingungen
Supraleitende Schichten in Ge und Si – Einfluss der Ausheilbedingungen
Fiedler, J.; Heera, V.; Skrotzki, R.; Herrmannsdörfer, T.; Voelskow, M.; Hübner, R.; Schmidt, B.; Skorupa, W.; Helm, M.
Es hat kein Abstract vorgelegen.
Involved research facilities
- High Magnetic Field Laboratory (HLD)
- Ion Beam Center DOI: 10.17815/jlsrf-3-159
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- DOI: 10.17815/jlsrf-3-159 is cited by this (Id 20227) publication
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Lecture (Conference)
35. Treffen der Nutzergruppe Heißprozesse und RTP, 02.04.2014, Erlangen, Deutschland
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