Tiefenselektive Phasenanalyse Si-ionenimplantierter "-Fe-Oberflächen mittels DCEMS

Tiefenselektive Phasenanalyse Si-ionenimplantierter "-Fe-Oberflächen mittels DCEMS

Walterfang, M.; Kruijer, S.; Keune, W.; Dobler, M.; Reuther, H.

• Lecture (Conference)
  DPG-Frühjahrstagung, Regensburg, March 23-27,1998

Permalink: https://www.hzdr.de/publications/Publ-2295