Strukturelle Untersuchung ionenbestrahlter Austausch-Verschiebungsschichtsysteme


Strukturelle Untersuchung ionenbestrahlter Austausch-Verschiebungsschichtsysteme

Blomeier, S.; Fassbender, J.; Hillebrands, B.; Mcgrouther, D.; Mcvitie, S.; Chapman, J. N.

Vor Kurzem konnte gezeigt werden, dass die magnetischen Eigenschaften von Austausch-Verschiebungssystemen durch Ionenbestrahlung gezielt beeinflusst werden können. Ein Modell wurde vorgeschlagen, welches die Änderung der magnetischen Eigenschaften der bestrahlten Systeme einer ioneninduzierten Änderung ihrer Struktur zuschreibt. Insbesondere wird die Erzeugung von Punktdefekten für die beobachteten Veränderungen verantwortlich gemacht. Um dieses Modell zu testen, wurde das ionenbestrahlte System NiFe/FeMn mit Hilfe von Transmissionselektronenmikroskopie untersucht. Es wurden Hellfeld-, Dunkelfeld- und Beugungsbilder von dem System aufgenommen und ausgewertet. Daraus wurden Morphologie, Partikelgrößen und kristallographische Struktur des Systems bestimmt und deren Abhängigkeit von der Bestrahlung durch 5 keV He+-Ionen und 30 keV Ga+-Ionen untersucht. Es konnte gezeigt werden, dass sich weder Partikelgrößen noch kristallographische Struktur mit zunehmender Ionendosis signifikant verändern. Diese Ergebnisse unterstützen die Theorie der defektinduzierten Modifikation der Austausch-Verschiebung.

Keywords: magnetism; exchange-bias; TEM; structural characterization

  • Poster
    Frühjahrstagung der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, 08.-12.03.2004

Permalink: https://www.hzdr.de/publications/Publ-6394