Electrical characterization of deep acceptor states in ZnO

von Wenckstern, H.; Schmidt, H.; Pickenhain, R.; Biehne, G.; Brandt, M.; Brauer, G.; Lorenz, M.; Dadgar, A.; Krost, A.; Grundmann, M.

nicht vorhanden

Lecture (Conference)
MRS Fall Meeting 2006, 27.11.-01.12.2006, Boston/MA, USA

Permalink: https://www.hzdr.de/publications/Publ-9077