Instrumentelle Ausstattung und Geräte
Bitte wenden Sie sich bei Interesse an Experimenten unter Benutzung dieser Geräte an die genannten Verantwortlichen.
Schichtabscheidung
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Beschreibung |
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Molekularstrahlepitaxie - MBE
- Eigenentwicklung
- 5 Tiegel Elektronenstrahlverdampfer
- 2 Knudsenzellen
- LEED/Auger
- in-situ He-Ionenbestrahlung
- in-situ MOKE-Magnetometrie
Verantwortlich: K. Potzger
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Molekularstrahlepitaxie + fokussierte Ionenstrahlen - MBE+FIB
- Hersteller: Createc
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MBE:
- 5 Tiegel Elektronenstrahlverdampfer
- 4 Knudsenzellen
- 2 Einzelstabverdampfer
- Ionenquelle: Modell IQ100 von Kremer
- Fokussierte Ionenbestrahlung (FIB): Hersteller: Orsay Physics, 25 kV
- LEED
- AES
Verantwortlich: K. Potzger
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Magnetometrie
1. Ferromagnetische Resonanz - FMR
2. Temperaturvariable ferromagnetische Resonanz - Cryo-FMR
3. Brillouin-Lichtstreumikroskop 1+2 - BLS
4. Magneto-Optical Kerr Effect - MOKE
5. Kerr-Mikroskop
6. Spitzenmessplatz für Nanostrukturen
7. Frequenzaufgelöster MOKE - FR-MOKE
8. Vibrationsmagnetometer - VSM
9. Rasterkraftmikroskop - AFM/MFM
10. Rasterkraftmikroskop - AFM
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Beschreibung |
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1. Ferromagnetische Resonanz - FMR
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Eigenentwicklung
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Agilent E8364B Vektornetzwerkanalysator:
Frequenzbereich 0.05 - 50 GHz
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Bruker Elektromagnet: max. ±2.2 T
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automatische polare und azimutale Rotation der Probe
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Helmholtzspulen: max 0.1 T
Verantwortlich: K. Lenz
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2. Temperaturvariable Ferromagnetische Resonanz
- Attocube Attodry 1000 closed cycle Kryostat
- ±5 T split-coil Magnet
- Temperature: 4 - 300 K
- Agilent N5225A Vector Network Analyzer:
- Frequenzbereich 0.05 - 50 GHz
- full polar and azimuthal sample rotation
Verantwortlich: K. Lenz
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3. Brillouin-Lichtstreumikroskop 1+2
- Eigenentwicklung
- BLS1: Phasen-und Zeitauflösung
BLS2: nur Zeitauflösung
- Frequenzanalyse mittels Tandem Interferometer TFP-2 HC von JRS Scientific Instruments
- Probenpositionierung mittels XM Ultra-Precision Linear Motor Stages von Newport
- 50x und 100x Objektive
- Magnetfeld bis max. 0.9 T
- Zeitauflösung: bis 30ps mittels TimeTagger 20 von Swabian Instruments
- GSG Picoprobes für Mikrowelleneinkopplung
- RF Anregung bsi 40 GHz, 30 dBm max.
- DC Anregung mittels SMU
- AWG + Pulse Pattern Generator
Verantwortlich: H. Schultheiss
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4. Magneto-Optical Kerr Effect - MOKE
- Eigenentwicklung
- Longitudinaler und transversaler Kerr-Effekt
- Feld (in-plane): max. 400 Oe (Helmholtzspulen)
- x, y, f Rasterung
- Temperaturbereich: RT – 600 K
Verantwortlich: H. Schultheiß
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5. Kerr-Mikroskop
- Hersteller: Evico-Magnetics
- Mikroskop: Zeiss Axio Imager.D1m
- Beleuchtung: 2x high-power LED (rot/blau)
- Bipol/Quadrupolmagnet
- Zweifarbsystem zur quantitativen Kerranalyse
- integrierte AMR-Messung
Verantwortlich: H. Schultheiß
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6. Spitzenmessplatz für Nanostrukturen
- Süss MicroTech PM5 Wafer Prober
- Süss Z-Probes: GSG 0-50 GHz, 150µm Pitch
- Evico Magnetics Elektromagnet: Bmax=
- Optem CCD-Mikroskop
- Agilent MXA Spektrumanalysator
- Tektronix DPO72004 Realtime Oszilloskop (20 GHz)
- Picosecond PulseLab Pulser
Verantwortlich: K. Lenz
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7. Frequenzaufgelöster MOKE - FR-MOKE
- optisch detektierte FMR (5 µm Ortsauflösung)
- Magnetfeld bis zu ca. ±1.4 T
- Kepco Netzgerät
- Frequenzbereich bis zu 35 GHz
Verantwortlich: K. Lenz
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8. Vibrationsmagnetometer - VSM
- agnetfeld bis zu ca. ±1.8 T
- Empfindlichkiet: 5x10-6 emu (0.8x10-6 rms noise)
- Winkelbereich 360°
- Vektor Coil Option
- Raumtemperatur
Verantwortlich: R. Salikhov
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9. Raster- und Magnetkraftmikroskop (AFM/MFM)
- Veeco/DI Multimode Nanoscope 4
- sample size: 10 x 10 mm²
- scan area max. 100x100 µm²
- scan area 15x15 µm²
- magnetic field 0 - 40 mT
- resolution:
- Scanning Spreading Resistance Microscopy (SSRM) option
Responsible: K. Potzger
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10. Raster- und Magnetkraftmikroskop (AFM/MFM)
- Bruker Icon Dimension
- sample size: up to 20 x 20 cm²
- scan area max. 100 x 100 µm²
- AFM: ScanAsyst mode, tapping mode, contact mode
- MFM: lifted mode
- resolution: ~1nm
Responsible: K. Potzger
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