Kontakt

Dr. Jürgen Lindner

Leiter
Magnetismus
j.lindnerAthzdr.de
Tel.: +49 351 260 3221

Instrumentelle Ausstattung und Geräte


Bitte wenden Sie sich bei Interesse an Experimenten unter Benutzung dieser Geräte an die genannten Verantwortlichen.


Thin Film Deposition

Bild Beschreibung
AJA Sputter Tool ©Copyright: Naumann, Thomas

AJA sputter chamber

  • 5 confocal sputter guns
  • 1 face-to-face sputter gun
  • 2 rf sources possible
  • max. substrate size 3" with substrate rotation
  • high vacuum

Responsible: T. Naumann

Bestec Sputter System ©Copyright: Naumann, Thomas

Bestec sputter chamber

  • 8 sputter guns, face-to-face&confocal
  • 2 RF sources
  • Ion source
  • max. sample size 4" (100 mm)
  • substrate rotation up to 36 rpm
  • temperature range: RT - 1200 K
  • ultrahigh vacuum

Responsible: T. Naumann

Neue MBE+FIB Kammer

ALDI: apparatus for layer deposition and interfaces

  • Manufacturer: Createc
  • MBE:
    • 5 pocket e-beam evaporator
    • 4 Knudsen cells
    • EFM3 evaporator
  • Ion source: Model Kremer IQ100
  • Plasma source
  • LEED
  • AES
  • sample size 10 x 10 mm²

Responsible: K. Potzger

 Sputnik Chamber

Sputnik: sputter chamber

  • sample size 10 x 10 mm²
  • temperature range: RT - 1000 °C
  • 2 targets
  • base pressure 1e-10 mbar
  • sputter pressure 3e-3 mbar at 43 sccm Argon

Responsible: K. Potzger


Magnetometrie

1. Ferromagnetische Resonanz - FMR
2. Temperaturvariable ferromagnetische Resonanz - Cryo-FMR
3. Brillouin-Lichtstreumikroskop 1+2 - BLS
4. Time-Resolved Magneto-Optical Kerr Effect
5. Magneto-Optical Kerr Effect - MOKE
6. Kerr-Mikroskop
7. Spitzenmessplatz für Nanostrukturen
9. Frequenzaufgelöster MOKE - FR-MOKE
10. Vibrationsmagnetometer - VSM
11. Rasterkraftmikroskop - AFM/MFM
12. Rasterkraftmikroskop - AFM


Bild Beschreibung
FMR

1. Ferromagnetische Resonanz - FMR

  • Eigenentwicklung

  • Agilent E8364B Vektornetzwerkanalysator:

    Frequenzbereich 0.05 - 50 GHz

  • Bruker Elektromagnet: max. ±2.2 T

  • automatische polare und azimutale Rotation der Probe

  • Helmholtzspulen: max 0.1 T

Verantwortlich: K. Lenz

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CryoFMR

2. Temperaturvariable Ferromagnetische Resonanz

  • Attocube Attodry 1000 closed cycle Kryostat
  • ±5 T split-coil Magnet
  • Temperature: 4 - 300 K
  • Agilent N5225A Vector Network Analyzer:
  • Frequenzbereich 0.05 - 50 GHz
  • full polar and azimuthal sample rotation

Verantwortlich: K. Lenz

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Foto: Mikrofocus BLS Setup ©Copyright: Dr. Katrin Schultheiß

3. Brillouin-Lichtstreumikroskop 1+2

  • Eigenentwicklung
  • BLS1: Phasen-und Zeitauflösung
    BLS2: nur Zeitauflösung
  • Frequenzanalyse mittels Tandem Interferometer TFP-2 HC von JRS Scientific Instruments
  • Probenpositionierung mittels XM Ultra-Precision Linear Motor Stages von Newport
  • 50x und 100x Objektive
  • Magnetfeld bis max. 0.9 T
  • Zeitauflösung: bis 30ps mittels TimeTagger 20 von Swabian Instruments
  • GSG Picoprobes für Mikrowelleneinkopplung
  • RF Anregung bsi 40 GHz, 30 dBm max.
  • DC Anregung mittels SMU
  • AWG + Pulse Pattern Generator

Verantwortlich: H. Schultheiss

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TR-MOKE Setup

4. Time-Resolved Magneto-Optical Kerr Effect

  • Eigenentwicklung
  • Delay time up to 5 ns
  • Feld: max. 1 T
  • Femtolasers XL500
  • Wavelength: 800 nm
  • Pulse-Length 40 fs
  • Repetition rate: 5 MHz
  • Output Power: 2.6 W
  • Energy: 500 nJ/pulse

Verantwortlich: H. Schultheiß

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Instrumentation MOKE

5. Magneto-Optical Kerr Effect - MOKE

  • Eigenentwicklung
  • Longitudinaler und transversaler Kerr-Effekt
  • Feld (in-plane): max. 400 Oe (Helmholtzspulen)
  • x, y, f Rasterung
  • Temperaturbereich: RT – 600 K

Verantwortlich: H. Schultheiß

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Kerr-Mikroskop

6. Kerr-Mikroskop

  • Hersteller: Evico-Magnetics
  • Mikroskop: Zeiss Axio Imager.D1m
  • Beleuchtung: 2x high-power LED (rot/blau)
  • Bipol/Quadrupolmagnet
  • Zweifarbsystem zur quantitativen Kerranalyse
  • integrierte AMR-Messung

Verantwortlich: H. Schultheiß

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PM5

7. Spitzenmessplatz für Nanostrukturen

  • Süss MicroTech PM5 Wafer Prober
  • Süss Z-Probes: GSG 0-50 GHz, 150µm Pitch
  • Evico Magnetics Elektromagnet: Bmax=
  • Optem CCD-Mikroskop
  • Agilent MXA Spektrumanalysator
  • Tektronix DPO72004 Realtime Oszilloskop (20 GHz)
  • Picosecond PulseLab Pulser

Verantwortlich: K. Lenz

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FR-MOKE Setup für optisch detektierte FMR

8. Frequenzaufgelöster MOKE - FR-MOKE

  • optisch detektierte FMR (5 µm Ortsauflösung)
  • Magnetfeld bis zu ca. ±1.4 T
  • Kepco Netzgerät
  • Frequenzbereich bis zu 35 GHz

Verantwortlich: K. Lenz

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Foto: Vibrationsmagnetometer ©Copyright: Dr. Kay Potzger

9. Vibrationsmagnetometer - VSM

  • agnetfeld bis zu ca. ±1.8 T
  • Empfindlichkiet: 5x10-6 emu (0.8x10-6 rms noise)
  • Winkelbereich 360°
  • Vektor Coil Option
  • Raumtemperatur

Verantwortlich: R. Salikhov

AMF/MFM

10. Raster- und Magnetkraftmikroskop (AFM/MFM)

  • Veeco/DI Multimode Nanoscope 4
  • sample size: 10 x 10 mm²
  • scan area max. 100x100 µm²
  • scan area 15x15 µm²
  • magnetic field 0 - 40 mT
  • resolution:
    • AFM ~10 nm
    • MFM ~30 nm
  • Scanning Spreading Resistance Microscopy (SSRM) option

Responsible: K. Potzger

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Foto: Bruker Icon Dimension AFM ©Copyright: Dr. Sven Stienen

11. Raster- und Magnetkraftmikroskop (AFM/MFM)

  • Bruker Icon Dimension
  • sample size: up to 20 x 20 cm²
  • scan area max. 100 x 100 µm²
  • AFM: ScanAsyst mode, tapping mode, contact mode
  • MFM: lifted mode
  • resolution: ~1nm

Responsible: K. Potzger

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