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Dr. René Hübner

Lei­ter Strukturanalytik
Elek­tronen­mikro­skopie-Labor
r.huebnerAthzdr.de
Tel.: +49 351 260 3174

orangener PfeilAnalytische Transmissionselek­tronen­mikro­skopie

Vorschau-Bild
Analytische Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) findet Anwendung in der Untersuchung der

  • Phasenbildung in Nanomaterialien
  • Struktur von dünnen Schichten einschließlich Oberflächen- und Grenzflächenrauigkeiten
  • Elementzusammensetzung im Nanometerbereich

Formung von Co-Pt-Partikeln in einer Siliziumoxid-Matrix während Temperung und Ionenbestrahlung

BF-TEM Co-Pt

Abb. 1. TEM-Hellfeldabbildung einer ursprünglich mit Kobalt und Platin bestrahlten und im Anschluss bei 1000 °C wärmebehandelten sowie mit 4 MeV Si+-Ionen bei 300 °C beschossenen SiO2-Quartzglassprobe.

HAADF Co-Pt

Abb. 2. HAADF-STEM-Aufnahme der Querschnittsprobe mit rot markierter Position für die qualitative EDXS-Analyse.

EDXS Co-Pt

Abb. 3. EDX-Spektrum an der rot markierten Stelle in Abb. 2. Neben Kobalt und Platin vom markierten Partikel werden Silizium und Sauerstoff der Quartzglassmatrix detektiert.