Kontakt

Dr. René Hübner

Lei­ter Strukturanalytik
Elek­tronen­mikro­skopie-Labor
r.huebnerAthzdr.de
Tel.: +49 351 260 3174

Strukturanalytik

Die Gruppe Strukturanalytik befasst sich mit der Analyse der strukturellen, morphologischen und chemischen Eigenschaften von nanostrukturierten Materialien, insbesondere von (ionenmodifizierten) Festkörperoberflächen und dünnen Schichten. Zum Einsatz kommen analytische Verfahren, die die Wechselwirkung von Elektronen und Röntgenstrahlen mit den Nanomaterialien nutzen.

Foto: REM - Referenzbild ©Copyright: Dr. René Hübner

Elek­tronen­mikro­skopielabor

Die Anwendung elek­tronen­mikro­skopischer Analysemethoden gestattet die visuelle Charakterisie­rung der Phasen­struk­tur, Morpho­logie und chemischen Zusammensetzung ­verschiedens­ter Werkstoffe und Material­systeme mit einer Auflö­sung bis in den atomaren Bereich.
Foto: Emyprean th-th Diffraktometer mit Hochtemperatur-Kammer ©Copyright: J.Grenzer

Röntgenlabor

Röntgendiffraktion (XRD) und Reflektometrie (XRR) finden Anwendung in der Analyse der Struktur von dünnen Schichten sowie deren Grenzflächen. Zusätzlich wird XRD in der Phasenanalyse / Phasenbildung und Gitter­verzer­rungen in Schicht­struk­turen und XRR bei der Untersuchung von Oberflächen- und Grenzflächenrauhig­keiten genutzt.

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