Abteilung Analytik - Ausstattung
Geowissenschaftler am Helmholtz-Institut Freiberg für Ressourcentechnologie ziehen mikroanalytische Methoden zur Lösung ganz unterschiedlicher Fragestellungen heran. Die Verfahren dienen dazu, chemische, kristallographische oder strukturelle Parameter in situ, also an Ort und Stelle, und nahezu zerstörungsfrei bei möglichst hoher Ortsauflösung zu bestimmen.
Verfahren der chemischen Elementanalyse mit verbesserter Nachweisgrenze von links nach rechts (weiß = in Betrieb; gelb = im Aufbau).
Übersicht der quantitativen und qualitativen Analyse-Methoden am HIF
Methode |
Laterale Ortsauflösung |
Nachweisgrenzen |
Besondere Merkmale |
Kontakt |
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Polarisationsmikroskop (Zeiss Imager 2 m) |
10 - 30 µm |
(semiquantitativ) |
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Röntgenfluoreszenzanalyse |
Gering |
2 x 10-5 - 1 x 10-6 g/g (P - U) |
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Rasterelektronenmikroskopie |
10 nm |
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Mineral Liberation Analysis |
1 µm |
10-3 g/g (B - U) |
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Pulver-Röntgendiffraktometrie |
Gering | 0,2 - 3 % |
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High Speed Particle |
~ 10 x 10 µm2 | ~ 10-5 g/g (Na - U) |
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EPMA Electron Probe Micro Analysis |
0,5 µm |
5 x 10-4 - 1 x 10-5 g/g (Be - U) |
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Dr. Joachim Krause |
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LA-ICP-MS Laser Ablation Inductively |
5 - 100 µm |
10-5 - 1 x 10-8 g/g (Li - U) |
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Dr. Joachim Krause |
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(unique, Ionenstrahlzentrum) |
3 x 3 µm2 |
2 x 10-3 Atom/ Atom (H, B - F) > 1 x 10-5 Atom/ Atom (Al - U) |
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Accelerator Mass Spectrometry |
gering | 10-15 Atom/ Atom (10Be, 26Al, 36Cl, 41Ca, 129I, ...) |
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Secondary Ion Mass Spectrometry |
~ 5 x 5 µm2 |
~ 10-9 - 10-12 Atom/ Atom (alle Elemente bis auf Edelgase) |
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| 4 um Voxelgröße |
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Dr. Jose Godinho | ||
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Probenpräparation |
Andreas Bartzsch |
